下面我們就這兩項指標(biāo)對絕緣測試的影響及檢測方法作一些粗簡的定量分析，給電力系統(tǒng)作絕緣檢測的工程技術(shù)人員提供一個參考。                                                                     

絕緣電阻表輸出短路電流的大小可反映出該絕緣電阻表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測試品存在電容量時，在測試過程的開始階段，絕緣電阻表內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻表的輸出額定高壓值。

這種狀態(tài)如下圖示

顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時就會加長。其時間可由R_內(nèi)和C_負(fù)載的乘積τ決定（單位為秒）。

試品上的端電壓即電容C上的電壓由下式?jīng)Q定：

…………………………………（1式）

式中：U_C為試品上的端電壓

       t為試品施加高壓的時間

      τ（= R_X·C）為時間常數(shù)，其中R_X = r//R

 例如：

額定電壓為5000V的絕緣電阻表，若其短路輸出電流為80μA(3122、3123絕緣表)，

其內(nèi)阻為：5000V/80μA＝62MΩ

如果試品容量為0.15μF，則時間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)

在18秒時刻，我們按（1式）計算得到，電容上的電壓（B點）僅為4323V,

試品與高壓源間的電壓差（A、B點間）為：

5000V－4323V=676V

則充電電流應(yīng)為：

 676V÷60 MΩ=11.3μA。

由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為：

5000V÷11.3μA＝442MΩ

若正確絕緣值為1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。

這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。它會使吸收比值R_60S/R_15S嚴(yán)重偏大。

所以，為保障準(zhǔn)確測得R_15S，R_60S的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻表。

“DL/T 845.1－2004 電子式絕緣電阻表”中, 要求絕緣電阻表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻表。

按如下圖示的檢定方法，可鑒別絕緣電阻表的充電能力及其對吸收比R_60S/R_15S測量的影響量。

圖中：C可采用CBB型無極化優(yōu)良品質(zhì)的電容，且吸收電荷極少；容量為0.15μ/6.3kV R可采用5000MΩ/5kV的電阻。

當(dāng)測量時間為15秒時，儀器顯示應(yīng)為R_15S＞4750 MΩ(因有電容C存在，所以被測阻值要比標(biāo)稱值小5%); 

當(dāng)測量時間為60秒時，儀器顯示應(yīng)為R_60S=5000MΩ，吸收比應(yīng)為R_60S/R_15S≤1.05。 說明：在第15秒時刻，儀器向電容C充電的電流越小，表示儀器的充電能力越強，吸收比就越趨于“1”。在現(xiàn)場測試的吸收比才越準(zhǔn)確。

以上粗簡分析僅供廣大技術(shù)人員參考。